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2008年10月25~28日在上海举行第17届世界无损检测大会(17th WCNDT)期间,ISO/TC 135(无损检测)分别召开了两个工作会议,即ISO/TC 135/SC 8(无损检测红外成像)会议和ISO/TC 135/SC 7/WG 7(资格鉴定的实施)会议。
在上海召开的本次ISO会议,由ISO/TC 135提出和主办,SAC承办,SAC/TC 56协办,具体会务工作则委托17th WCNDT会务组承担。
2008年10月25日下午14:00~17:00,ISO/TC 135/SC 8会议在上海展览中心东二馆5308会议室举行。参加会议的正式代表共有16人,分别来自韩国(4人)、日本(4人)、印度尼西亚(1人)、俄罗斯(1人)、加拿大(1人)、中国(5人)。由于会议为开放式,允许17th WCNDT代表自愿参加,会议期间另有不同国籍的近10位非正式代表列席了会议。
原定于2008年10月26日召开的ISO/TC 135/SC 7/WG 7会议,临时改至2008年10月28日上午9:00在上海展览中心东二馆5115会议室举行。本次会议为工作组内部会议。参加会议的正式代表共5人,分别来自美国、加拿大、英国和日本等国。
全国无损检测标准化技术委员会
2008年10月28日
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